1、Yuming Zhou*, Hangzhi Liu, Shilu Mu, Zhaoquan Chen, and Bing Wang. Short-Circuit Failure Model of SiC MOSFET Including the Interface Trapped Charges. IEEE Journal of Emerging and Selected Topics in Power Electronics, 2020, 8(1): 90-98. 2、周郁明*,武钰,陈兆权,王兵. 基于常通型碳化硅JFET的自供电固态断路器. 电力电子技术, 2020, 54(2): 63-65. 3、周郁明*,蒋保国,刘航志,陈兆权,王兵. 包含SiC/SiO2界面电荷的SiC MOSFET的SPICE模型. 中国电机工程学报,2019, 39(19): 5604-5612. 4、周郁明*,刘航志,杨婷婷. SiC JFET与SiC MOSFET失效模型及其短路特性对比. 电子学报,2019,47(3):726-733. 5、周郁明*,蒋保国,陈兆权,王兵. 场效应晶体管短路失效的数值模型. 西安电子科技大学学报,2019,46(4):175-184. 6、周郁明*,刘航志,杨婷婷. SiC JFET与SiC MOSFET失效模型及其短路特性对比.电子学报,2019,47(3):726-733. 7、周郁明*,刘航志,杨婷婷,王兵. 碳化硅MOSFET电路模型及其应用. 西安电子科技大学学报,2018 45(3):97-101. 8、Yuming Zhou*, Hangzhi Liu, Tingting Yang, and Bing Wang. SPICE Modeling of SiC MOSFET Considering Interface-Trap Influence. CPSS Transactions on Power Electronics and Applicaitons, 2018, 3(1): 56-64. 9、周郁明*,刘航志,杨婷婷,王兵. 碳化硅MOSFET的Matlab/Simulink建模及其温度特性评估. 南京航空航天大学学报,2017,49(6):851-857. 10、周郁明*,李勇杰,鲍观甲,刘航志. 基于先进迁移率模型的4H-SiC MOSFET Spice模型研究. 中国科学技术大学学报,2017,47(10):878-884. |